Расположите элементы
1) в порядке возрастания заряда ядра и уменьшения электроотрицательности:
Xe, In, Ag, Sr, Nb, Ru, Y, Te, Mo
2) в порядке увеличения радиуса атома и основных свойств: Na, B, Al, Si, N, Ca, K
3) в порядке возрастания высшей валентности: I, Y, Zn, Si, S, Br, K, Al, Br, As, Cl.

1) 1
2) 1
3) 1
4) 2
5) 3
6) 4
7)2
8) 1
9) 1
10) FeO + 4HNO₃ = Fe(NO₃)₃ + NO₂ + 2H₂O
11) нет вариантов
12) нет вариантов
13) Верно
А. Ионы  тяжёлых металлов, содержащего соединения свинца, отрицательно сказывается  на состоянии окружающей среды  и здоровье людей.
15) 2

Часть 2
Б1
1) строение внешнего электронного слоя соответствует формуле nS² 
2) увеличивается число неспаренных электронов  в атоме - нет
3) высшие гидроксиды проявляют свойства сильных оснований - да
4) восстановительные свойства усиливаются при  уменьшении заряда ядра - нет
5) ослабевают  металлические свойства при увеличении порядкового номера - нет

Б2) 2,4

Б3) А2,Б4,В5
       А5, Б4, В3

В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.

Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.

Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.

Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.

Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.

^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.

Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.